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      葉面積指數(shù)測(cè)定儀

      更新日期:2025-01-08

      簡(jiǎn)要描述:

      葉面積指數(shù)測(cè)定儀用于各種高度植物冠層的研究,利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像,通過專用分析軟件,獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測(cè)量植物冠層數(shù)據(jù),只操作一次即可,簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)測(cè)量方法要一天定點(diǎn)多次測(cè)量的繁復(fù)工作,而且利用圖像法測(cè)量冠層可以主動(dòng)避開不符合計(jì)算該冠 層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分,也可以躲開不符合測(cè)量計(jì)算的障礙物。

      型號(hào):HD-G20點(diǎn)擊量:265

      儀器介紹

      葉面積指數(shù)測(cè)定儀用于各種高度植物冠層的研究,利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像,通過專用分析軟件,獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測(cè)量植物冠層數(shù)據(jù),只操作一次即可,簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)測(cè)量方法要一天定點(diǎn)多次測(cè)量的繁復(fù)工作,而且利用圖像法測(cè)量冠層可以主動(dòng)避開不符合計(jì)算該冠 層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分,也可以躲開不符合測(cè)量計(jì)算的障礙物。


      測(cè)試原理與方法

      葉面積指數(shù)測(cè)定儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過冠層孔隙率的測(cè)定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下,植物冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法,該方法是各類方法中精確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。


      結(jié)構(gòu)組成

      植物冠層圖像分析儀由魚眼圖像捕捉探頭(由魚眼鏡頭及CCD圖像傳感器組成)、內(nèi)置25個(gè)PAR傳感器的測(cè)量桿(搖臂)、筆記本電腦、圖像采集軟件及圖像 分析軟件組成。魚眼探頭安裝在一個(gè)很輕的搖臂的頂端,它可以獲取150°視角的魚眼圖像。圖像的顯示和存貯由配置的筆記本計(jì)算機(jī)完 成。


      可測(cè)量指標(biāo)

      葉面積指數(shù)

      葉片平均傾角

      天空散射光透過率

      不同太陽高度角下的植物冠層直射輻射透過率

      不同太陽高度角下冠層的消光系數(shù)

      葉面積密度的方位分布

      葉面積指數(shù)測(cè)定儀



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