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      • HED-WinRHIZO植物根系圖像分析儀
        HED-WinRHIZO植物根系圖像分析儀

        植物根系圖像分析儀利用高質(zhì)量圖形掃描儀獲取高分辨率植物根系彩色圖像或黑白圖像,該掃描儀在掃描面板下方和上蓋中安裝有專門的雙光源照明系統(tǒng),并且在掃面板上預留了雙光源校準區(qū)域。

        日期:2025-01-13型號:HED-WinRHIZO瀏覽量:1080
      • HED-WinRHIZO植物根系分析儀
        HED-WinRHIZO植物根系分析儀

        植物根系分析儀是一套用于洗根后的專業(yè)根系分析系統(tǒng),可以分析根系長度、直徑、面積、體積、根尖記數(shù)等,功能強大,操作簡單,軟件可分析植物根系的形態(tài),色彩、分級伸展分析及根系的整體結(jié)構分布等等。廣泛運用于根系形態(tài)和構造研究。

        日期:2025-01-13型號:HED-WinRHIZO瀏覽量:991
      • HED-YA葉綠素測定儀
        HED-YA葉綠素測定儀

        葉綠素測定儀測量時只需要將葉片插入并合上測量探頭即可,不需要采摘葉片,不影響作物正常生長,可以在作物的生長過程中全程對特定的葉片進行監(jiān)測,從而得到更科學的分析結(jié)果。

        日期:2025-01-08型號:HED-YA瀏覽量:1175
      • HED-YA便攜式葉綠素測定儀
        HED-YA便攜式葉綠素測定儀

        便攜式葉綠素測定儀多功能USB接口,可實現(xiàn)數(shù)據(jù)導出與充電功能,可將儀器與電腦直接聯(lián)機,數(shù)據(jù)以EXCEL格式導出,無需上位機軟件,操作簡單方便。

        日期:2025-01-08型號:HED-YA瀏覽量:1189
      • HED-YA手持測葉綠素儀
        HED-YA手持測葉綠素儀

        手持測葉綠素儀可將數(shù)據(jù)自動分組,并可自動計算每組數(shù)據(jù)的平均值??蓪⑼蝗~片測量的數(shù)據(jù)自動分為一組,便于查看每次測量數(shù)據(jù)及這一組數(shù)據(jù)的平均值,有效的避免了不同葉片的測量數(shù)據(jù)混淆。采用16GB超大存儲,所以分組數(shù)量和每組的數(shù)據(jù)不受限制。

        日期:2025-01-08型號:HED-YA瀏覽量:1168
      • HED-YA便攜式葉綠素儀
        HED-YA便攜式葉綠素儀

        便攜式葉綠素儀*的測量精度和重復性(精度:± 1.0 SPAD,重復性:±0.3 SPAD) ,媲美進口品牌,或可根據(jù)已知葉綠素含量的葉片或標準試樣客戶自行校準。

        日期:2025-01-08型號:HED-YA瀏覽量:1101
      • HED-YA葉綠素分析儀
        HED-YA葉綠素分析儀

        葉綠素分析儀根據(jù)葉綠素光譜吸收規(guī)律,采用兩種不同的發(fā)光管照射葉片,通過測量透過葉片的光的強度計算出葉片內(nèi)的葉綠素相對含量或者綠色程度,從而為合理、適當、及時施肥提供可靠的科學依據(jù),廣泛應用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)、植物等科學研究和生產(chǎn)指導。

        日期:2025-01-08型號:HED-YA瀏覽量:1050
      • HED-G20植物冠層圖像分析儀
        HED-G20植物冠層圖像分析儀

        植物冠層圖像分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法,該方法是各類方法中準確和省力、省時、快捷方便的方法。

        日期:2025-01-13型號:HED-G20瀏覽量:966
      • HED-G20植物冠層分析儀
        HED-G20植物冠層分析儀

        植物冠層分析儀由魚眼圖像捕捉探頭(由魚眼鏡頭及CCD圖像傳感器組成)、內(nèi)置25個PAR傳感器的測量桿(搖臂)、筆記本電腦、圖像采集軟件及圖像 分析軟件、高容量的可充電電池組組成。

        日期:2025-01-13型號:HED-G20瀏覽量:921
      • HED-G20植物冠層分析系統(tǒng)
        HED-G20植物冠層分析系統(tǒng)

        植物冠層分析系統(tǒng)采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗的公式,通過冠層孔隙率的測定,計算出冠層結(jié)構參數(shù)。

        日期:2025-01-13型號:HED-G20瀏覽量:890
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